3D-Messung mit strukturierter Beleuchtung
Die genaue Erfassung von Objektoberflächen ist sowohl in der Produktkontrolle, in verschiedenen medizinischen Anwendungen oder auch bei der Digitalisierung von Kunstgegenständen entscheidend. Optische Messverfahren ermöglichen es dabei, kontaktlos und schnell 3D-Modelle zu erstellen. Eine Methode, die sowohl Genauigkeit als auch Geschwindigkeit gewährleistet, ist die Verwendung strukturierter Projektionsmuster. Anhand anschaulicher, ausgewählter Beispiele werden einige Mustertypen und Projektionsmethoden vorgestellt und Anwendungsfelder aufgezeigt. So können z.B. Messungen an schwer zugänglichen Orten oder in extremen Geschwindigkeiten durchgeführt oder „unkooperative“ Objekte, wie transparente Glasoberflächen, vermessen werden.
Vortragender: Dr. Andreas Stark
Zielgruppe: Jedermann
Informationen zur Veranstaltung
Veranstaltungsort: Friedrich-Schiller-Universität Jena, Physikalisch-Astronomische Fakultät
Adresse: Max-Wien-Platz 1, 07743 Jena
Website: http://www.uni-jena.de/
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Quelle: https://www.weltderphysik.de/vor-ort/veranstaltungen/