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Elektronenmikroskopische Aufnahme einer Dünnschichtsolarzelle

Elektronenmikroskopische Aufnahme der Oberfläche einer Dünnschichtsolarzelle aus kristallinem Silizium. Die Oberflächenstruktur in Form von invertierten Pyramiden führt dazu, dass das Licht schräg in die Zelle eingekoppelt wird. In Verbindung mit einer optisch reflektierenden Rückseite erhöht sich damit der Lichtweg in der Zelle um ein Vielfaches. Eine 30µm dicke Dünnschichtzelle hat nahezu die gleichen Eigenschaften wie eine 300µm dicke Wafer-Zelle. Die Zellstruktur wurde auf einem elektrisch isolierenden Substrat erzeugt. Daher sind die Kontaktfinger für positive und negative Ladungen auf der Frontseite angebracht. Skala: 10µm.