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Abgestumpfte Spitze eines Rasterkraftmikroskops

Rasterkraftmikroskope arbeiten üblicherweise mit sehr scharf zulaufenden Spitzen. Das Bild zeigt die abgestumpfte Spitze, mit der die Reibungskraft der Silizium-Platten vermessen wurde. Dazu wurde die Spitze mit dem Rasterkraftmikroskop in Kontakt mit der Platte gebracht und seitlich gezogen.